二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）是一种用于深度分析样品表面和亚表面结构的分析技术；它通过将样品表面溅射出二次离子，然后利用质谱仪分析这些离子的质量和浓度，从而获取样品表面和亚表面的化学成分和结构信息。

​X射线衍射（XRD）技术是一种重要的材料分析方法，广泛应用于材料科学、化学、物理学等领域。它通过分析X射线在晶体材料中的衍射现象，获取物质的晶体结构、晶粒尺寸、应变等信息。常规XRD技术在分析块状样品时具有较高的准确性和可靠性，但在分析薄膜、纳米材料等表面敏感样品时，存在一定的局限性。为了克服这些局限，掠入射XRD（GIXRD）技术应运而生。

​在使用GSAS软件进行XRD精修时，一个重要的输入文件就是“仪器参数文件”。仪器参数文件除了包含靶材类型，波长等信息外还包含五个重要的峰形参数：GU，GV，GW，LX和LY

X射线吸收光谱（XAS）技术是一种强大的表征手段，广泛应用于材料科学、化学、物理学、生物学和环境科学等领域。XAS测试通过分析样品对X射线的吸收情况，可以获取物质内部电子结构、原子结构、局域结构及分子结构等多层次信息。

同步热分析仪（TG-DSC）是一种高精度的实验设备，用于测量材料在加热或冷却过程中的质量变化和热流变化，处理同步热分析仪（TG-DSC）测试数据和结果是实验过程中的关键步骤。

掠入射X射线衍射技术是一种先进的X射线衍射技术，它通过改变X射线的入射角度和样品的朝向，使X射线与样品表面的交互作用最大化，从而获得更详细的结构信息;掠入射XRD技术在材料科学中有广泛的应用，包括晶体生长、薄膜制备、界面化学、表面催化和生物材料等领域。

紫外光电子能谱UPS是一种用于研究材料表面化学性质的技术；它通过测量样品表面原子或分子中的电子在紫外光子激发下释放的能量，来鉴定元素的种类、化学状态和电子结构。

微计算机断层扫描（Micro-Computed Tomography，micro-CT​​​​​​​）是一种用于成像微观结构的断层扫描技术，它在材料科学、生物学、医学等领域具有广泛的应用。

​ESR/EPR数据，即电子顺磁共振数据，是科研领域中一种重要的实验数据，在许多学科领域，如物理、化学、生物、材料等，ESR/EPR技术都发挥着重要作用。