组件设计者可能知道一些情况，在这些情况下，组件的系统使用可能被边界扫描功能破坏并导致电路问题。作为一个简单的例子，一个组件可能具有动态系统逻辑，需要时钟驱动来保持其状态。因此，在将组件从系统模式切换到INTEST测试模式时，必须保持时钟驱动。可以为DESIGN_WARNING属性分配一个字符串消息，以提醒未来的用户潜在的问题。以下是标准 VHDL 包 STD_1149_1_2001 的完整内容。这

从BT-BASIC直接调用用户函数会因BT-BASIC与ATL频繁交互增加复杂度，推荐优先从ATL中调用。开发UCI服务器需安装兼容的C/C++开发工具，且编译时必须链接uciapi.lib库文件。UCI服务器程序的main函数格式标准化，核心流程为「创建服务器→注册函数→处理调用→关闭服务器」。rcall语句调用的函数名是注册的别名，而非C/C++程序中的原始函数名。

此选项指定在 MOA 输入（恒定电压配置）中测试组件时的电流限制。在跳线和开关测试中，如果测得的电阻小于或等于指定的阈值，则测试通过。如果在跳线或开关语句中包含op（反向）选项，则如果测得的电阻大于指定的阈值，测试即为通过。如果在添加pc选项后您的电容器测试结果增加了100 pF，则测试结果有效。此选项指导系统在组件测试期间进行指定次数的读取，并将平均值作为测试结果输出。此选项指定 ASRU 的增

从概念上看，似乎两个特殊类别应该相似，即Silicon Nail应像当前的边界扫描InterconnectPlus模型（图6-8和图6-10）那样运行，或者边界扫描Interconnect应像当前的Silicon Nail模型（图6-7和图6-9）那样运行。Silicon Nail的特殊文档将短语“其连接设备的边界扫描测试”更改为“连接设备的Silicon Nail测试”。请记住，您必须包含所有的

您的Silicon Nail测试的资源将与其他测试一样被分配，并且测试将被添加到最终的测试计划中。在Silicon Nail测试中生成的 pcf 值的顺序是基于用于生成测试的库源代码中 assign 语句的顺序。当生成Silicon Nail测试时，MSPD会编写测试，以便Silicon Nail节点（硅节点）的测试与分配有物理探针的节点（探针节点）的测试协调进行。在重新排序的代码中，pcf 语句

Silicon Nail测试使用边界寄存器单元来替代物理探针或节点。Silicon Nail是指使用边界寄存器单元来替代节点上的物理探针。边界寄存器单元充当驱动器和接收器，如图6-1所示。边界扫描设备之间的设备通常是一个非边界扫描部分或一个小型集群。如果存在物理探针，则Silicon Nail测试将不允许您使用Silicon Nail来替代该探针。Silicon Nail会为具有库的数字设备自动生