此选项指定在 MOA 输入（恒定电压配置）中测试组件时的电流限制。在跳线和开关测试中，如果测得的电阻小于或等于指定的阈值，则测试通过。如果在跳线或开关语句中包含op（反向）选项，则如果测得的电阻大于指定的阈值，测试即为通过。如果在添加pc选项后您的电容器测试结果增加了100 pF，则测试结果有效。此选项指导系统在组件测试期间进行指定次数的读取，并将平均值作为测试结果输出。此选项指定 ASRU 的增

从概念上看，似乎两个特殊类别应该相似，即Silicon Nail应像当前的边界扫描InterconnectPlus模型（图6-8和图6-10）那样运行，或者边界扫描Interconnect应像当前的Silicon Nail模型（图6-7和图6-9）那样运行。Silicon Nail的特殊文档将短语“其连接设备的边界扫描测试”更改为“连接设备的Silicon Nail测试”。请记住，您必须包含所有的

您的Silicon Nail测试的资源将与其他测试一样被分配，并且测试将被添加到最终的测试计划中。在Silicon Nail测试中生成的 pcf 值的顺序是基于用于生成测试的库源代码中 assign 语句的顺序。当生成Silicon Nail测试时，MSPD会编写测试，以便Silicon Nail节点（硅节点）的测试与分配有物理探针的节点（探针节点）的测试协调进行。在重新排序的代码中，pcf 语句

Silicon Nail测试使用边界寄存器单元来替代物理探针或节点。Silicon Nail是指使用边界寄存器单元来替代节点上的物理探针。边界寄存器单元充当驱动器和接收器，如图6-1所示。边界扫描设备之间的设备通常是一个非边界扫描部分或一个小型集群。如果存在物理探针，则Silicon Nail测试将不允许您使用Silicon Nail来替代该探针。Silicon Nail会为具有库的数字设备自动生