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功能测试（Functional Test）主要是验证逻辑功能，是运用测试矢量和测试命令来进行的一种测试，相比于纯 DC 测试而言，组合步骤相对复杂且耦合度高。在功能测试阶段时，测试系统会以周期为单位，将测试矢量输入 DUT，提供预测的结果并与输出的数据相比较，如果实际的结果与测试矢量预测值不相符，则认为不通过。

半导体测试基础 - AC 参数测试

随着芯片集成度越来越高，手动测试已无法满足需求，因此要用到自动化测试设备（ATE，Automated Test Equipment）。因为现在的芯片原来越复杂，普通的 Bench 测试没法满足需求。ATE 可检测集成电路功能之完整性，是集成电路生产制造最终的流程，确保产品质量。芯片测试算是半导体产业链上游里面最末端的一个组成部分。受测试的器件主要分几类：储器、数字电路、模拟电路和混合信号电路。

DC 参数测试，测的主要是器件上单个引脚的一些特性。对大多数的 DC 参数来说，实质上是在测半导体的电阻率，而解释电阻率用的是欧姆定律。如需验证 DC 测试流程的可行性，也可以借电阻器来等效 DUT，以排除 DUT 之外的问题。比方说，在芯片规格书里出现的参数 VOL：我们可以看出，VOL 最大值为 0.4V，IOL 为 8mA，即当输出逻辑低电平的情况下，必须是在不大于 0.4V 的电压下产生

功能描述：1，无线蓝牙连接，手机可控制歌曲音频选择。2，音频声音的大小可控制一排LED的亮灭数量起伏。3，按键可控制手机音频的声音大小调节，歌曲的切换。4，蓝牙一键开机功能，掉电保护。

电路中的24V，实际上可以用7V~44V都可以，我曾经用过24V，12V，9V都没有问题。电路中的5V，不是由外部提供，而是XTR111输出的，这个5V可以用来给DAC芯片供电，当然也可以不用。这个5V最大提供5mA电流，给DAC芯片提供电流绰绰有余，给其它芯片供电的话，你要搞清楚能否带的起来。电路中，PNP三极管使用SS8550，不是S8550。PMOS管使用SI2309。这两个芯片都使用SOT

MCU是89C52单片机WiFi模块是ESP8266其他 8路继电器 电源模块使用贝壳物联做服务器 还有客户端。也可以用花生壳做内网穿透，8266做服务器，也可以实现物联以及反馈（8266支持同时5个客户端）已经实现8开关+反馈+远程开门和锁门（汽车中控锁）附C代码以及手机客户端代码（E4A）ID以及APIKEY 需要去贝壳物联申请贝壳物联用户中心

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