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【光电共封CPO】从电子到光子,CPO测试接口将会是AI硬件赛道下一个“惊爆点”
工厂流水线都是数十台甚至上百台机台对应大规模的晶圆级、封装好的芯片和光模块在规定的测试时间内进行可重复、稳定、不过杀(overkill,半导体术语:测试标准或者机台带来的误判将本来好的物料判定为次品,造成浪费)也不漏测(underkill,半导体术语:测试标准或者机台带来的误判将本来次品的物料判定为良品,造成出货)的量产测试,而现阶段CPO测试面对的难题并不是能不能测,而是如何在量产条件下稳定地测

到底了







