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测试基础篇-开尔文测试基本原理
开尔文测试方法,是模拟电路测试常用的测试方法之一,又叫开尔文四线检测(Kelvin Four-terminal sensing),也被称之为四端子检测(4T检测, 4T sensing)。四线检测也被称为开尔文(Kelvin)四线检测,由威廉·汤姆森·开尔文勋爵( William Thomson, Lord Kelvin)在1861年发明的开尔文电桥测量低电阻。每两线连接,可以称得上是Kelvin
DDR4入门知识
说到DDR,估计绝大多数人直接会想到的是电脑里面的存储器,但实际上DDR指的是:Double Data Rate(双倍速率),其实是一种快速实现的技术。驱动测试的实现,内容编写耗时几天,篇幅可能比较长,实用性强,本人一点点走下来,结合网络资源与自身实践,特总结本篇。:静态随机存储器,存取速度快,但是容量小,掉电后数据会丢失,制作成本较高,通常用来作为快取(Cache)记忆体使用。,行地址禁用,剩下
阻抗计算的必要性和计算方法
1、阻抗计算的必要性当电压电流在传输线传播的时候,如果特性阻抗不一致就会造成所谓的信号反射现象等等。在信号完整性领域里,比如反射,串扰,电源平面切割等问题都可以归类为阻抗不连续问题,因此匹配的重要性在此展现出来。2、常见阻抗模型我们一般利用Polar.SI9000阻抗计算工具进行阻抗计算,在计算之前我们需要认识常见的阻抗计算模型,常见的阻抗模型有特性阻抗、差分阻抗、共面性阻抗。如图3-6所示,阻抗
到底了







