cp -r 数据/ADC采样 数据/ADC采样备份/# 复制整个文件夹（加-r参数）grep -i "warning" /var/log/dmesg# 忽略大小写筛选警告日志（-i=不区分大小写）tail -f /var/log/dmesg# 实时监控系统内核硬件日志（排查硬件识别故障）cd /mnt/d/硬件测试/数据 && pwd# 跳转后立即确认路径，输出：/mnt/d/硬件测试/数据。

对于测试而言，测试通过标记为PASS，未通过（功能、性能等方面存在问题）标记为FAIL。这些FAIL项就独立成为了缺陷。一个FAIL对应一个缺陷，每个缺陷都需要一份完整的缺陷报告来管理，同时可增加“改进建议”栏，从修bug升级到优化设计。测试时，发现FAIL，形成一个缺陷问题 → 结合故障映射表分析根因 → 进行缺陷流程管理（含优化建议） → 编写标准化缺陷报告 → 回归测试 → 归档沉淀，完善模