推拉力测试是评估芯片力学性能的一种有效方法，可以通过测量芯片在不同载荷下的应力-应变曲线来分析其强度、稳定性等力学性能指标。本文博森源电子小编将以半导体芯片为研究对象，通过推拉力试验的方式，对其力学性能进行详细的测量和分析，以期为芯片的品质控制和性能评估提供科学依据。

推拉力测试仪适用于各种不同用途之测试!

LB8600推力机测试量程总计四个可以选择：10Kg、20Kg、40Kg和100Kg。