在查看 V93000-LB 板原理图时，常常会看到在 MS-DPS 电源“P”与地“G”间会设计两个电容，一个容量小的电容和一个容量大的电容，这两个电容容量为多大，它们在测试中起什么作用？如上图所示，这是MS-DPS 电源，在电源VDD 端与地 GND 端设计了两个电容，一个容量为 10uA 电容，一个容量为0.1uA 电容，VDD 端与 DPS1-P-01连接，GND 端与 DPS1-G-01

芯片漏电流测试时，通常判定值为-10uA~10uA，正常测试值一般均在该范围内，但有时会发现测试值超过判定值的现象，当出现漏电流超过判定值时，可以查看产品手册或询问设计人员，芯片引脚是否有上、下 拉电阻设计。在芯片设计时，为了使芯片引脚状态处于更稳定状态，对于一些引脚高低电平状态对芯片工作影响大的引脚，会采用上、下拉电阻设计，以防止芯片上电时引脚处于不定态，从而造成芯片进入一些非期望状态。如复信号

Leakage漏电流测试，主要使用PPMU单元Force电压Measure电流的原理来实现测试，PPMU的这种IFVM测试有大三种不同的模式：PPMUpar、PPMUser和SPMUser。在测试过程中，只有理解了这三种测试模式的运行方式，才能更准确有效的选择使用哪一种测试模式，接下来将对这三种PPMU的测试模式进行介绍。今天，介绍第二种模式PPMUser！2、PPMUser并行测试模式PPMUs

V93000测试程序是基于C++编程，V93000测试编程更偏向专用测试API和相对固定的架构编程。在V93000机台测试程序统称为TM(test method),具体的测试项称为test class，通常它由XXX.cpp和XXXUtil.hpp组成，或者只由cpp构成。在“.cpp”中会对测试项进行定义，因为它基于类，因此它会基于class的语法格式：class 类名{访问权限： 属性； 行为

Leakage漏电流测试，主要使用PPMU单元Force电压Measure电流的原理来实现测试，PPMU的这种IFVM测试有大三种不同的模式：PPMUpar、PPMUser和SPMUser。在测试过程中，只有理解了这三种测试模式的运行方式，才能更准确有效的选择使用哪一种测试模式，接下来将对这三种PPMU的测试模式进行介绍。今天，介绍三第种模式SPMUser！2、SPMUser并行测试模式SPMUs

Leakage漏电流测试，主要使用PPMU单元Force电压Measure电流的原理来实现测试，PPMU的这种IFVM测试有三种不同的模式：PPMUpar、PPMUser和SPMUser。在测试过程中，理解了这三种测试模式的运行方式，能更准确有效的选择使用哪一种测试模式，接下来将对这三种PPMU的测试模式进行介绍。今天，首先介绍第一种模式PPMUpar。1、PPMUpar并行测试模式PPMUpar

leakage漏电流：V93K是如何执行漏电流测试？V93K ATE机台在执行漏电流测试时，是基于以下流程开展测试：1）执行CONNECT，电源上电及信号引脚进入连接状态；2）检测漏电流测试类型是否为LOW（即IIL,PMOS端漏电流），若是则执行：a）执行功能预处理测试，使Pattern运行到设定的stop 向量或周期位置；b）检测预处理是否为非“NO”，若是则获取预处理功能测试结果；c）检测测

漏电流是一种芯片常见测试项，常用来对输入引脚测试（含io的in状态），包括IIL和IIH输入漏电流测试，通过对输入漏电流的测试，能测试到输入端到vdd和vss端的电阻，确保满足设计要求，输入漏电流测试也是对器件是否静电损坏的重要测试项。IIL为在force低电压VSS时，测试vdd端到输入端的漏电流，此时输入端的逻辑电平为1。因为force低因此为IILIIH为在force高电压Vddmax时，测