DFT - 对芯片测试的理解（二） 详解参考： https://www.docin.com/p-2014360649.htmlThe basic view of DFT scan chain这图很好的理解，Pre DFT时，将 DFF 换成 scan-FF ，让电路具备三种模式的切换。Function mode：即chip正常的工作模式。此时SE=0。Shift mode: 此时SE=1，选择Sc

DFT - 对芯片测试的理解（一） 初识总结—>详细论述和分析为什么要做DFT芯片生产过程中，导致的物理缺陷。DFT用来测试芯片质量，看是否在生产过程中，因为物理制造过程，导致芯片损坏的问题。即不是检查芯片的功能是否正常，只检查芯片的内部连线等等，是否都正确连接到。以前想的是，可以直接设计一个功能测试脚本程序，如果脚本程序运行结果正确，同样可以检查出芯片是否完好。这样做的好处是，不用再在芯片

scan cell有两种不同的input：1)data input：由电路的combinational logic驱动；2)scan input：由另一个scan cell驱动，从而形成scan chain；在normal/capture mode下，data input来驱动output；在shift mode下，scan input来驱动output；几种scan_cell：muxed-D s

在做DFT的时候会有多种Fault Models,大多数默认会上Stuck-atand Transition 这两种Fault Models,其余的会根据DPPM要求以及客户的需求来增加Fault Models 和对应的test pattern.下面来简单介绍下这几种Fault Models:Stuck-at: 来检测post-silicon上tie hight & tie lo...

ScanDEF 用于记录Scan chain 的信息，以在不同的工具中传递，如ATPG 工具跟P&R 工具。目前常用的ScanDEF 版本是5.5，其格式如下：ScanDEF 由如下几部分组成（注：由于目前常用的是muxed scan style, 以下叙述都是基于muxed scan style, 关于LSSD scan style 如有兴趣，可私聊。）：numScanChains:表示

DFT - 对芯片测试的理解（二） 详解参考： https://www.docin.com/p-2014360649.htmlThe basic view of DFT scan chain这图很好的理解，Pre DFT时，将 DFF 换成 scan-FF ，让电路具备三种模式的切换。Function mode：即chip正常的工作模式。此时SE=0。Shift mode: 此时SE=1，选择Sc

DFT - 对芯片测试的理解（二） 详解参考： https://www.docin.com/p-2014360649.htmlThe basic view of DFT scan chain这图很好的理解，Pre DFT时，将 DFF 换成 scan-FF ，让电路具备三种模式的切换。Function mode：即chip正常的工作模式。此时SE=0。Shift mode: 此时SE=1，选择Sc

DFT测试-OCC电路介绍SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常，我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试，测试频率是10M-30M ,AC SCAN.