半导体器件的性能和可靠性依赖于其电气参数是否符合设计规范。直流（DC）参数测试是确保这些参数准确的重要步骤之一。

GDR（通用数据记录）作用：存储用户自定义数据，支持多种数据类型（字符串、数组、浮点数等）。关键字段GEN_DATA（动态类型字段，含类型码和数据体）。保留范围REC_TYPE和REC_SUB代码小于200为Teradyne保留，大于200可供用户自定义。示例：定义和REC_SUB=5表示自定义温湿度监控记录。STDF V4通过模块化记录设计和明确的扩展规则，成为半导体测试数据交换的事实标准。标准