光伏EL测试技术基于晶体硅电致发光效应，通过红外成像检测组件内部微观缺陷。测试仪采用恒流源激发、高灵敏度相机捕捉和智能图像处理，15-30秒即可检出5μm级缺陷。突破性白天检测技术利用光学滤波和强电流注入，使便携设备能在阳光下工作。当前设备已形成产线级（300块/小时）和便携式两大体系，后者支持AI自动识别14种缺陷。该技术不仅实现质量判定，更能通过数据分析预测组件寿命，推动光伏行业质量管控升级。