摘要：本文详细介绍了芯片接口电气参数的测试原理，包括VOH/VOL（输出高低电平）、VIH/VIL（输入高低电平）和IIH/IIL（输入漏电流）三类关键指标。VOH/VOL测试验证芯片在负载条件下的输出电平稳定性；VIH/VIL通过功能测试法评估芯片的输入识别能力；IIH/IIL则测量输入引脚在高阻状态下的漏电流特性。文章通过示意图和测试流程说明了各类参数的测试方法，并强调了测试中的注意事项，如电