本文介绍基于Qt、C++和ONNX Runtime的工业缺陷检测系统，实现图像处理与模型推理的高效集成。通过多线程、OpenCV预处理和ONNX模型推理，构建稳定、轻量、可部署于工控机的本地化视觉系统，适用于高精度、低延迟的智能制造场景。

本文综述了新兴技术下超低功耗电路与系统的设计进展，涵盖新型器件、架构创新与跨层优化方法。文章涉及FinFET、石墨烯、自旋电子学及神经形态计算等关键技术，展示了在不牺牲性能前提下显著降低功耗的潜力，适用于高性能计算与物联网应用。