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SSN(流式扫描网络):重塑芯片可测试性设计的未来
SSN通过流式传输、核心自治和动态资源管理,不仅解决了传统DFT的固有痛点,更为未来芯片的复杂化、异构化测试铺平道路。对于设计团队而言,拥抱SSN意味着更短的上市时间、更低的测试成本,以及应对未知挑战的灵活性。例如,超大规模SoC中全局扫描链的布线拥塞、异构IP核的独立测试需求,以及3D IC堆叠带来的访问难题,迫使DFT技术亟需革新。针对AI芯片中大量重复的计算单元,SSN支持“一次配置,多次复

SSN(流式扫描网络):重塑芯片可测试性设计的未来
SSN通过流式传输、核心自治和动态资源管理,不仅解决了传统DFT的固有痛点,更为未来芯片的复杂化、异构化测试铺平道路。对于设计团队而言,拥抱SSN意味着更短的上市时间、更低的测试成本,以及应对未知挑战的灵活性。例如,超大规模SoC中全局扫描链的布线拥塞、异构IP核的独立测试需求,以及3D IC堆叠带来的访问难题,迫使DFT技术亟需革新。针对AI芯片中大量重复的计算单元,SSN支持“一次配置,多次复

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