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积层陶瓷电容器的电容和散逸因数度量(murata资料一部分翻译)

1.概要      当使用LCR模型衡量高电介质MLCC电容器(X7R 或 Y5V),可能存在无法实现适当的电容值的情况。      由于电容值和散逸因数受温度、电压(交流,直流)以及频率的影响,所以当无法达到理想的电容值时,可能是设计者没有的考虑到一定情况下的电容特性。当然,还有另一个原因是采用的测量方式或测量仪器的问题。      只有完全的理解MLCC电容器的特性,才能在设计中正

#测试
读书笔记——读《不断进步的电容器-片状陶瓷电容篇》

申明:该内容属于murata公司所有,本人只是在原文基础上,摘抄自己不懂或者感兴趣的内容,仅供学习使用,所以转载请注明。绿色字体部分为本人的总结或感想,非原文所有。历史在1961年由美国公司提出,通过在超薄介电体上形成电极并进行多层重叠,从而实现了小体积但具备大静电容量的电容器。可以看出,这个就是多个电容的并联,以此得到大的电容值。目前介电率得到不断提高,目前已达到3000左

#制造
到底了