探针卡（probe card）是晶圆测试（wafer test）中被测芯片（chip）和测试机之间的接口，主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量，并筛选出不良芯片后，再进行之后的封装工程。集成电路（integrated circuit，缩写：IC）是采用半导体制作工艺，在一块较小的硅片上制作许多晶体管及电阻器、电容器等元器件，并按照多层布线方法将元器件组合成完整的电子电路探针卡按结构类

一、简述记录Linux 虚拟机与主机之间的文件传输方式，比如使用共享文件夹、使用Samba、SecureCRT、FileZilla、CuteFTP软件等方式进行文件共享/文件传输。软件打包：链接：https://pan.baidu.com/s/1EsuqgAbd4pORE8zJuW05hg 密码：ldp7二、方式1：设置共享文件夹方式1、打开VM...

综上所述，LPDDR5X相比LPDDR5，在数据传输速度和能效方面都有所提升，是针对新一代移动和便携设备优化的内存解决方案。尽管这些差异在日常轻量级应用中可能不易察觉，但对于需要高性能和长续航的应用场景，LPDDR5X能提供更显著的优势。

随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难，为了实现芯片的快速测试和筛选，ATE设备为其提供了强有力的支撑。ATE运用芯片设计仿真文件，将其作为芯片输入激励，通过ATE测试平台提供芯片测试环境，将芯片的输出和测试结果进行比较，以此来判定芯片的好坏。说起IC测试，不得不说一下Pattern这个词，它中文的意思是模式。在图像处理中，这

光电二极管（Photo-Diode）是由一个PN结组成的半导体器件，具有单方向导电特性。光电二极管是在反向电压作用之下工作的，在一般照度的光线照射下，所产生的电流叫光电流。如果在外电路上接上负载，负载上就获得了电信号，而且这个电信号随着光的变化而相应变化。输出电压=输入光信号 ×响应度×50Ω负载结光电二极管是一种基本器件，功能类似于普通的信号二极管，但在结半导体的耗尽区吸收光时，会产生...

本篇是个人学习知识笔记，可能会持续更新，如有任何问题欢迎大家批评指正（ltt@hkaco.com）（图源请参考图片水印）。一、芯片的生产流程二、芯片生产过程中涉及到的测试设备三、后道检测中的CP测试和FT测试1、CP测试：CP测试，英文全称Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试，测试对象是针对整片wafer中的每一个Die，目的是确保整片wafer中的每一个Die

Image Sensor Test System IP750Ex-HDThe Global Leader in Image Sensor TestingAdvantagesPowerful bank of processorsfor running the most advanced image test algorithms for high resolution devicesHigh spe