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最近在测试,没有相噪仪,频谱仪只能测出相噪数据,无法得到jitter数据,所以就自己写了一个Matlab程序计算。计算方法是按照ADI工程师Walt Kester的Converting Oscillator Phase Noise to Time Jitter写的。(pdf我放在超链接里啦,有需要自取)下面是很简单的Matlab程序:[SSPLL_8G_pn] = xlsread('D:\Matl

今天大概了解了一下什么是N路滤波器,就是利用开关电容和电阻的网络来实现滤波器的特性:当开关闭合时,单个的RC滤波器传输函数可表示为:如果考虑开关采样:其中fs是控制开关的时钟频率,因此,相当于是将RC滤波器的传输特性进行了频谱搬移,直接搬移到了fs处。随着fs的变化,可以进行调谐。这样就比传统的RC滤波器多了一个fs的自由度,可以实现更宽范围的调频。但是弊端也很容易看到,就是由于开关的限制,不适用
两个问题1. 为什么增加采样频率fs量化噪声PSD会降低?由于量化误差可以建模为样本与样本之间不相关,因此可以等效为频率范围[0,fs2][0, \frac{f_s}{2}][0,2fs]的“白”噪声,频率响应平坦。但由于量化噪声只与字长有关,在量化噪声功率PnP_{n}Pn保持不变的情况下,fsf_sfs增大,单边功率谱密度将会降低:PFD=2×PnfsPFD=2 \times \fra
具体的问题来源电荷注入影响图(复位后积分器电压突变)电荷注入(charge-injection)是mos开关常见的一个问题,在这里简单的说一下:下图是电荷注入问题的示意,MOS管导通时在沟道区会存在沟道电荷,在导通或关断的瞬间,此电荷流入或流出MOS开关,因此会改变对应节点的电压,引入误差。一般在开关开启时,由于输出和输入相接,Vo跟随Vi,故电荷注入导致Vo的瞬时变化常可以忽略;而在开关断开时,
testbench schematic如下:通过ADE设置dc,扫描参数a的范围、步进。通过点击Tools>Calculator>选择op后会自动跳回到schematic页面,这时需要点击变容管,如果你仿真的是MOS管作变容管则需要点击MOS管。并且出现如下的小窗口,下拉list选择cap即可。(注意如果没有点击变容管list下面就没有cap选项。)然后回到calculator界面,将
引言在使用Cadence Virtuoso画电路的时候,快捷键可以提高我们的工作效率。但Virtuoso中只定义了一些常用的基本快捷键,有些时候我们在进行一些额外操作的时候也希望有快捷键,这时候就需要自定义快捷键了。举个例子,我们都知道schematic中快捷键9可以高亮Net,但是如何取消高亮呢?如果没有定义快捷键,就需要从菜单Create>>Probe>>Remove
(1)LVS Options->Supply下面的选项,若选择Abort LVS on power/ground net errors选项,则电源地短路时会中断LVS,此时不选这选项再Run LVS,这样LVS就不会中断且会报出电源地短路的地方,但是不选这个选项会Run很久,所以一般都会选择这个选项;若选择Abort LVS on Softchk errors选项,则有软连接时会中断LVS,此时不
目录ADS安装ADS安装在这里呢,博主提供一个比较靠谱的安装破解教程链接~https://www.jb51.net/softjc/685817.html之所以推荐它是因为它真的有很多细节的地方都说清楚了。比如:那么这个eesof_license_tools的路径安排,在我第一次安装的时候没有注意就安装到了ADS2020的安装盘符之下了,导致安装失败。而且更尴尬的是这个路径好像只能初始...
最近在学习数字后端综合,在选择参考库的时候会遇到一个选择库的问题。以TSMC工艺库为例,名称中带有bwp的就是所谓的tap-less libraries,那这篇文章就来分享一下什么是tap-less libraries。note: tap-less means no well-tap connecion, e.g. no pickups.1. 什么是tap celltap cell就是well会连
假定一个电路中需要四个时钟相位,分别表现为-90°, +90°, -180°, +180°,两个相邻时钟沿之间必须准确地间隔1ns,怎么准确地来产生这些相位呢?一共有两种方法:1.如下图所示,利用一个两级差动环路振荡器来产生四个相位(简单的两级CMOS环形振荡器不能起振)。但是在工艺和温度变化的情况下怎样才能保证间隔为1ns呢?这就要求振荡器必须锁定在250MHz的参考时钟下,使得输出时钟的周期正