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Tessent Shell工具简介

Tessent Shell是一个Tcl shell环境,提供一个一体的Tcl命令设置和命名惯例(传统),Tessent Shell可以对设计执行以下操作:通过Tessent Shell命令行运行Tessent工具。工具包括:TessentFastScan、Tessent TestKompress、Tessent Scan、Tessent Diagnosis、Tessent MemoryBIST(s

#嵌入式硬件#后端
扫描测试原理

摘要:扫描测试是通过将触发器替换为扫描单元形成扫描链来控制内部节点状态和观测电路响应。测试过程包括:1)初始化并设置测试模式;2)通过移位操作加载测试向量和移出结果;3)在捕获阶段测量输出并记录响应。主要步骤为:强制扫描使能、输入测试数据、施加功能输入、测量输出、脉冲捕获时钟。通过比较测量值与期望值判断测试通过与否。该方法实现了对电路内部状态的有效控制和观测。

#嵌入式硬件#后端
ATPG故障类型和测试策略

set_multiple_detection -guaranteed_atpg_detections <n>,这个命令指定了每个可测故障被规定要检测的次数,在完成初次检测的向量生成后,会继续生成向量来实现对故障的第2,3,4,...,n次检测。图示为多个向量检测到桥接故障的示例,蓝色故障为stuck-at-1,白色故障为bridge,当向量为010时可以检测到stuck-at-1的蓝色故障,当向量

#嵌入式硬件#后端
WGL与STIL解析

总结:WGL指定扫描链的状态,向量序列位数不与扫描链单元数一致,通过多个循环的操作, 使用scan vector将扫描链单元转化成指定的scanstate,不是直接将scanstate shift in扫描链(或者说需要先根据scanstate转化成需要的向量,再执行shift in操作)。O表示输出,I表示输入。定义了名字为gen_tp1的timeplate,周期为40ns,调用这个timepl

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#嵌入式硬件
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