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- @Freezeblur
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# 芯片良率是怎么算出来的？——从泊松到负二项分布，一个芯片测试工程师的视角
- 良率=好Die/总Die，但选错模型可能差17个百分点- Poisson模型过于悲观，Murphy居中，**Negative Binomial才是业界标配**- 关键不是良率数字，是**跟踪聚类因子α的变化**——它能早几周预警工艺漂移- Chiplet时代，10颗90%良率的Die封在一起，整体良率只有35%
到底了