比较常用的数据库为：NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database，它是由美国国家标准与技术研究院 (NIST)材料测量实验室 (MML)发布的XPS数据信息。在这里可以查询XPS谱峰信息，分峰拟合结果、仪器参数设置等，可以说比较方便。我们可以选择XPS，在数据库中选取自己所需的元素成键轨道，然后就可以查询到相应的结合能、化学键以及参考文献，非常方便。

答：XPS是表面成分分析技术，主要探测表面10nm深度的成分信息，样品表面如果有暴露空气，会吸附空气中的碳氢化合物，所以实际表面铁含量肯定小于1%。答：是的，XPS主要是半定量分析，主要采用灵敏度因子法，灵敏度因子是基于标准样品获得的，实际样品与标准样品肯定有偏差，所以得到的定量数据就是半定量的数值。答：还是要看具体的化合物，比较复杂的要结合其他技术手段，比如TOF-SIMS等，可以通过谱峰结合能

即选中所有XPS谱图（包括Survey谱图及元素的窄扫谱图），然后点击工具栏中的“X”图标，选择“Report Options”；b. 在弹出的窗口中的“File Path for Excel Document”一栏中输入数据文件保存的地址与名称，也可以通过“Browse”直接搜索地址，然后点“OK”生成一个Excel数据文件的地址。，在弹出 的窗口中选中“shift by amount”，然后在