XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy），X射线光电子能谱，可以说是材料研究中必不可少的一类分析测试手段了。今天我们就来讲讲，什么情况下我们需要用到XPS，以及拿到数据之后应该怎样进行数据处理分析。，是一种高灵敏超微量表面分析技术，样品分析的，可做分析从峰位和峰形可以获知样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息从峰强可以获知表面元素的相对含量或浓度。

如果样品本身导电性较差，而样品中又含碳，那么需要对样品进行分峰，分峰之后找到外来污染碳的谱峰，将其作为基准进行校正才是准确的(并不是哪个峰最强就将其作为基准)。Background type一般选取Shirley,基线的优化主要靠Shirley+Linear的Slope来实现，可以手动输入数值，然后点击accept就可以看到基线了，如果觉得基线不是特别好，可以通过改变Slope的值进行调整。在此基

此时，当X射线不断照射样品时，样品表面发射光电子，表面亏电子， 出现正电荷积累（XPS中荷正电），从而影响XPS谱峰，影响XPS分析。2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正：将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ，即得到校正后的峰位（整个过程中XPS谱图强度不变）。缠绕或压在架子或回形针上，或样品台的孔中 央，分析区域内纤维丝悬空，避免基底元素干 扰分析结果；这里小编向大家推荐三款软件。

是的，石墨烯谱峰有拖尾（能量损失峰），需要用非对称拟合方式即asymmetrical，如果用AVANTAGE软件，需要解锁 tail mix 和tail exponent，如果用MULTIPAK，直接选择Asymmetry模式，设置 Tail length 和 tail scale这两个参数，这时候同时添加C-O/C=O谱峰，这两个谱峰仍然要用G-L的对称峰设置，拟合后根据谱峰比例再去调整TAIL

在做X 射线光电子能谱(XPS)测试时，科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到，好多同学仅仅是通过文献或者师兄师姐的推荐对。有了解，但是对于其原理还属于小白阶段，针对此，科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理，希望可以帮助到科研圈的伙伴们；本文所有内容文字和音视频资料，版权均属科学指南针网站所有，任何媒体、网站或个人未经本网协议授权不得以链接、转贴、截图等任何方式转载

比较常用的数据库为：NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database，它是由美国国家标准与技术研究院 (NIST)材料测量实验室 (MML)发布的XPS数据信息。在这里可以查询XPS谱峰信息，分峰拟合结果、仪器参数设置等，可以说比较方便。我们可以选择XPS，在数据库中选取自己所需的元素成键轨道，然后就可以查询到相应的结合能、化学键以及参考文献，非常方便。

A. s能级没有分裂峰，对于p、d、f等能级的次能级（如p3/2、p1/2，为简便省略/2，简称为p3、p1）强度比是一定的，p3:p1=2:1；B.对于有能级分裂的能级（p、d、f），分裂的两个轨道间的距离也基本上是固定的. 如同一价态的W4f7和W4f5之间的距离为2.15eV左右，Si2p3和Si2p1差值为1.1eV左右，具体化学状态下能级分裂的两个轨道之间的距离会有不同。W 4f轨道的两

答：XPS是表面成分分析技术，主要探测表面10nm深度的成分信息，样品表面如果有暴露空气，会吸附空气中的碳氢化合物，所以实际表面铁含量肯定小于1%。答：是的，XPS主要是半定量分析，主要采用灵敏度因子法，灵敏度因子是基于标准样品获得的，实际样品与标准样品肯定有偏差，所以得到的定量数据就是半定量的数值。答：还是要看具体的化合物，比较复杂的要结合其他技术手段，比如TOF-SIMS等，可以通过谱峰结合能

即选中所有XPS谱图（包括Survey谱图及元素的窄扫谱图），然后点击工具栏中的“X”图标，选择“Report Options”；b. 在弹出的窗口中的“File Path for Excel Document”一栏中输入数据文件保存的地址与名称，也可以通过“Browse”直接搜索地址，然后点“OK”生成一个Excel数据文件的地址。，在弹出 的窗口中选中“shift by amount”，然后在

答：XPS是表面成分分析技术，主要探测表面10nm深度的成分信息，样品表面如果有暴露空气，会吸附空气中的碳氢化合物，所以实际表面铁含量肯定小于1%。答：是的，XPS主要是半定量分析，主要采用灵敏度因子法，灵敏度因子是基于标准样品获得的，实际样品与标准样品肯定有偏差，所以得到的定量数据就是半定量的数值。答：还是要看具体的化合物，比较复杂的要结合其他技术手段，比如TOF-SIMS等，可以通过谱峰结合能