XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy），X射线光电子能谱，可以说是材料研究中必不可少的一类分析测试手段了。今天我们就来讲讲，什么情况下我们需要用到XPS，以及拿到数据之后应该怎样进行数据处理分析。，是一种高灵敏超微量表面分析技术，样品分析的，可做分析从峰位和峰形可以获知样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息从峰强可以获知表面元素的相对含量或浓度。

即选中所有XPS谱图（包括Survey谱图及元素的窄扫谱图），然后点击工具栏中的“X”图标，选择“Report Options”；b. 在弹出的窗口中的“File Path for Excel Document”一栏中输入数据文件保存的地址与名称，也可以通过“Browse”直接搜索地址，然后点“OK”生成一个Excel数据文件的地址。，在弹出 的窗口中选中“shift by amount”，然后在

是的，石墨烯谱峰有拖尾（能量损失峰），需要用非对称拟合方式即asymmetrical，如果用AVANTAGE软件，需要解锁 tail mix 和tail exponent, 如果用MULTIPAK，直接选择Asymmetry模式，设置 Tail length 和 tail scale这两个参数，这时候同时添加C-O/C=O谱峰，这两个谱峰仍然要用G-L的对称峰设置，拟合后根据谱峰比例再去调整TAI

该手册更详尽地展示了有机聚合物的XPS数据，包含物质的XPS全谱、各元素的高分辨谱峰、甚至包括分峰拟合参数表，功能十分强大。上期我们介绍了赛默飞的XPS数据库，本期推荐一本比较经典的数据手册，离线使用更方便。该数据手册给出了元素的全谱、结合能位置、俄歇峰等信息，非常值得参考。以下是获取方式，其中还包含XPS结合能查询表等其他数据供查阅参考。除此之外，还有一本针对有机聚合物的XPS数据手册。更多科研

如果样品本身导电性较差，而样品中又含碳，那么需要对样品进行分峰，分峰之后找到外来污染碳的谱峰，将其作为基准进行校正才是准确的(并不是哪个峰最强就将其作为基准)。Background type一般选取Shirley,基线的优化主要靠Shirley+Linear的Slope来实现，可以手动输入数值，然后点击accept就可以看到基线了，如果觉得基线不是特别好，可以通过改变Slope的值进行调整。在此基

图中未能正确认识轨道自旋分裂峰的概念，下图是Ca元素的数据手册资料，从资料中可以看出Ca的p轨道是轨道自旋谱峰，2p3/2与2p1/2一对是一种化学态，图一2p3/2居然四个并标注了所谓的化学态，2p1/2却只有一种化学态，面积比列2：1就更不用说了。随着应用范围的扩增，XPS的表征基本属于文章的基本表征，但是对于数据分析的规范和正确性需要大家引起重视，现在就发表的文章，里面XPS数据分析的基本错

我们都知道Avantage 软件 是Thermo Fisher Scientific（赛默飞）专用的处理XPS数据的一大利器，其具备多种功能，下面介绍一下如何通过软件内部的数据库来查询各个元素的结合能。首先打开Avantage软件，在页面左侧点击相应图标（软件需更新至5.99版本），打开XPS knowledge view界面，这里展示的是C1s的结合能数据。当我们点击图谱时，会把相关的信息导入到

我们都知道Avantage 软件 是Thermo Fisher Scientific（赛默飞）专用的处理XPS数据的一大利器，其具备多种功能，下面介绍一下如何通过软件内部的数据库来查询各个元素的结合能。首先打开Avantage软件，在页面左侧点击相应图标（软件需更新至5.99版本），打开XPS knowledge view界面，这里展示的是C1s的结合能数据。当我们点击图谱时，会把相关的信息导入到

该手册更详尽地展示了有机聚合物的XPS数据，包含物质的XPS全谱、各元素的高分辨谱峰、甚至包括分峰拟合参数表，功能十分强大。上期我们介绍了赛默飞的XPS数据库，本期推荐一本比较经典的数据手册，离线使用更方便。该数据手册给出了元素的全谱、结合能位置、俄歇峰等信息，非常值得参考。以下是获取方式，其中还包含XPS结合能查询表等其他数据供查阅参考。除此之外，还有一本针对有机聚合物的XPS数据手册。更多科研

比较常用的数据库为：NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database，它是由美国国家标准与技术研究院 (NIST)材料测量实验室 (MML)发布的XPS数据信息。在这里可以查询XPS谱峰信息，分峰拟合结果、仪器参数设置等，可以说比较方便。我们可以选择XPS，在数据库中选取自己所需的元素成键轨道，然后就可以查询到相应的结合能、化学键以及参考文献，非常方便。