所以即便只是为工业应用去开发芯片，ISO 26262-11的内容也是有着很好的借鉴价值，尤其是考虑到IEC 61508的下一个版本也有可能需要考虑诊断的诊断（类似于latent fault）参考前面如何阅读标准的文章，标准的scope总是很重要的部分，如上图所示，可以发现这部分标准是informative的，更重要的是，由于ISO 26262的其他部分大部分是为了OEM以及Tier1去编制的，很多

例如如果芯片的use case需要满足ASIL D的需求，那么SPFM以及LFM这俩指标由于是相对值，最佳的做法自然是满足99%以及90%的两个限值，对于PMHF，ASIL D的需求是10FIT，可能对于类似于Aurix这样的主控芯片只能分10%，也就是1FIT，考虑到芯片的规模，其实挑战很大。以FMEDA为例，本身通过FMEDA得到精确指标这件事情并没有太大意义，FMEDA最有价值的事情是做FM

例如如果芯片的use case需要满足ASIL D的需求，那么SPFM以及LFM这俩指标由于是相对值，最佳的做法自然是满足99%以及90%的两个限值，对于PMHF，ASIL D的需求是10FIT，可能对于类似于Aurix这样的主控芯片只能分10%，也就是1FIT，考虑到芯片的规模，其实挑战很大。以FMEDA为例，本身通过FMEDA得到精确指标这件事情并没有太大意义，FMEDA最有价值的事情是做FM