GIP的测试相对简单。为保证面板的显示效果精确和一致性较好，就必须保证每根source的输出每阶电压都在SPEC范围内。3，deviation 测试： 将没一根的ideal 值与其对应的灰阶offset值，求差与上下限比较。1，ideal测试：检查每一根 PIN 每一阶source输出电压的是否符合Spec，如果有一根超出LIMIT .测试FAIL。DEVIATION TEST ： IC sour

在COB和模组阶段，AE所验证产生的测试pattern资料多为逻辑分析抓去的信号波形。高档的逻辑分析仪是可以存为VCD文档，大多数是只可以输出command文本指令。1，以TDDI驱动IC为例，大尺寸的IC通信接口多为mipi，IIC，SPI，80等。a，要有每行pattern的计数值，作为在机台中的pattern地址比较。有利于动态修改pattern。3，转出的pattern尽可能产生足够详细的