本文系统介绍了芯片Pad漏电流测试（Leakage Test）的核心内容。首先概述了Pad关键测试项目：开短路、驱动能力、漏电流及功能测试；其次详细解析数字I/O Pad的电路结构，包括漏极开路、推挽输出、三态门和双向Pad的工作原理；重点阐述了漏电流测试的电压设置规则，针对输入/输出Pad分别说明测试条件和方法，特别分析了上/下拉电阻的影响；最后以ATE V93K测试机为例，展示了完整的测试流程